{"id":16549,"date":"2022-08-02T06:25:15","date_gmt":"2022-08-02T06:25:15","guid":{"rendered":"http:\/\/www.alalloycasting.com\/?p=16549"},"modified":"2022-08-29T08:08:42","modified_gmt":"2022-08-29T08:08:42","slug":"porous-ceramic-filter-defect","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.alalloycasting.com\/pt\/porous-ceramic-filter-defect\/","title":{"rendered":"Defeito no filtro cer\u00e2mico poroso"},"content":{"rendered":"

A observa\u00e7\u00e3o de diferentes amostras e o uso de um microsc\u00f3pio para analisar o defeito do filtro cer\u00e2mico poroso e as inclus\u00f5es de esc\u00f3ria contribuir\u00e3o diretamente para o aprimoramento subsequente do processo.<\/p>\n

1. Processamento da amostra<\/p>\n

Use as dimens\u00f5es fornecidas: 432 \u00d7 432 \u00d7 50 mm, 50 ppi filtro cer\u00e2mico poroso<\/a> marcar e cortar o filtro cer\u00e2mico poroso<\/a> Corte em peda\u00e7os conforme mostrado na ilustra\u00e7\u00e3o<\/p>\n

Em seguida, o bloco de ensaio \u00e9 cortado na dire\u00e7\u00e3o horizontal. O m\u00e9todo de corte \u00e9 mostrado na Figura 2.<\/p>\n

As amostras identificadas como 3 se\u00e7\u00f5es verticais foram selecionadas para an\u00e1lise e, ap\u00f3s o corte horizontal, foram numeradas de cima para baixo, recebendo os n\u00fameros S31, S32 e S33, respectivamente.<\/p>\n

Os filtros de corte s\u00e3o tratados, polidos, limpos por ultrassom (limpeza com etanol absoluto) e, em seguida, irradiados com uma luz Leica DM2700 M<\/p>\n

As amostras processadas foram fotografadas e analisadas por meio de um microsc\u00f3pio metalogr\u00e1fico, e foi analisada a distribui\u00e7\u00e3o dos defeitos nas se\u00e7\u00f5es superior, intermedi\u00e1ria e inferior. Ao mesmo tempo, utilizando o KEYENCE VHX-5000<\/p>\n

Os defeitos s\u00e3o observados com um microsc\u00f3pio de profundidade de campo ampliada. A microscopia eletr\u00f4nica e a an\u00e1lise energ\u00e9tica de cada amostra foram realizadas utilizando um microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico de varredura por emiss\u00e3o de campo Zeiss EVO18, de fabrica\u00e7\u00e3o alem\u00e3.<\/p>\n

Observa\u00e7\u00e3o por an\u00e1lise espectral.<\/p>\n

2 Resultados e An\u00e1lise<\/p>\n

2.1 An\u00e1lise da microestrutura<\/p>\n

\"filtro
filtro cer\u00e2mico poroso<\/figcaption><\/figure>\n

A Figura 3, a Figura 5 e a Figura 7 mostram amostras de S31, S32 e S33, respectivamente, ampliadas 50 vezes sob um microsc\u00f3pio metalogr\u00e1fico \u00f3ptico. A parte branca na figura \u00e9<\/p>\n

A matriz met\u00e1lica, a parte com listras pretas, \u00e9 a rede cer\u00e2mica do filtro cer\u00e2mico poroso<\/a>\u00a0defeito: \u00c9 poss\u00edvel observar pequenas manchas redondas, listras ou irregularidades no substrato met\u00e1lico<\/p>\n

grade de esc\u00f3ria (ou buracos de esc\u00f3ria).<\/p>\n

Utilizando o microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico de varredura alem\u00e3o EVO18 da Zeiss, do tipo de emiss\u00e3o de campo<\/p>\n

Microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico de varredura para microscopia eletr\u00f4nica e an\u00e1lise do espectro de energia de cada amostra<\/p>\n

An\u00e1lise: pode-se observar, a partir das imagens do microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico, que o filtro cer\u00e2mico poroso<\/a> defeito e o<\/p>\n

Na ordem de S31, S32 e S33 da matriz met\u00e1lica, os poros de esc\u00f3ria<\/p>\n

O n\u00famero de esc\u00f3rias \u00e9 reduzido gradualmente, os poros das esc\u00f3rias do S33 s\u00e3o significativamente reduzidos e o ouro<\/p>\n

A microestrutura \u00e9 mais densa.<\/p>\n

Inclus\u00f5es de esc\u00f3ria (orif\u00edcios contendo esc\u00f3ria) observadas ao microsc\u00f3pio metalogr\u00e1fico \u00f3ptico, conforme a Tabela 1<\/p>\n

Pode-se observar, a partir da compara\u00e7\u00e3o do n\u00famero, do tamanho e da \u00e1rea m\u00e9dia de<\/p>\n

Em termos da \u00e1rea m\u00e9dia das inclus\u00f5es de esc\u00f3ria no campo, a parte superior S31 da placa de filtro \u00e9 semelhante \u00e0 parte central S32, enquanto a S33, pr\u00f3xima \u00e0 placa de filtro, apresenta uma redu\u00e7\u00e3o significativa.<\/p>\n

As esc\u00f3rias retidas pela placa filtrante podem ter tamanho m\u00ednimo de 11 m\u00edcrons.<\/p>\n

2.2 An\u00e1lise da composi\u00e7\u00e3o das inclus\u00f5es de esc\u00f3ria<\/p>\n

Para facilitar a observa\u00e7\u00e3o da esc\u00f3ria, a amostra S32 foi submetida a observa\u00e7\u00e3o sob um microsc\u00f3pio de profundidade de campo extrema, e um microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico de varredura foi utilizado para analisar os defeitos por meio do espectro de energia.
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