Наблюдение за различными образцами и использование микроскопа для анализа дефектов пористого керамического фильтра и включений шлака непосредственно способствуют последующему совершенствованию технологического процесса.
1. Подготовка проб
Возьмите отлитную деталь размером 432×432×50 мм с разрешением 50 ppi пористый керамический фильтр дефект и отрезать пористый керамический фильтр разделить на части, как показано на рисунке
После этого испытательный образец разрезают в горизонтальном направлении. Способ разрезания показан на рисунке 2.
Для анализа были отобраны образцы с маркировкой «3 вертикальных среза», которые после горизонтального разреза были пронумерованы сверху вниз: S31, S32 и S33 соответственно.
Вырезанные фильтры проходят обработку, полировку, ультразвуковую очистку (в абсолютном этаноле), а затем подвергаются облучению светом прибора Leica DM2700 M
Обработанные образцы были сфотографированы и изучены с помощью металлографического микроскопа, после чего было проанализировано распределение дефектов в верхней, средней и нижней частях. При этом использовался микроскоп KEYENCE VHX-5000
Дефекты наблюдают с помощью микроскопа с сверхбольшой глубиной резкости. Электронная микроскопия и энергетический анализ каждого образца проводились с использованием немецкого полевоэмиссионного сканирующего электронного микроскопа Zeiss EVO18.
Наблюдение с помощью спектрального анализа.
2. Результаты и анализ
2.1 Анализ микроструктуры
На рисунках 3, 5 и 7 представлены образцы S31, S32 и S33, увеличенные в 50 раз под оптическим металлографическим микроскопом, соответственно. Белая область на рисунке — это
Металлическая матрица — часть с чёрными полосками — представляет собой керамическую структуру пористый керамический фильтр Дефект: на металлической основе видны небольшие кружочки, полоски или неровности
сеть шлаковых отводов (или шлаковых отверстий).
С использованием немецкого сканирующего электронного микроскопа EVO18 компании Zeiss с полевой эмиссией
Сканирующий электронный микроскоп для электронной микроскопии и анализа энергетического спектра каждого образца
Анализ: как видно из снимков, полученных с помощью электронного микроскопа, пористый керамический фильтр дефект и
В порядке S31, S32 и S33 металлической матрицы шлаковые поры
Количество шлака постепенно уменьшается, шлаковые поры в S33 значительно сокращаются, а золото
Микроструктура более плотная.
Включения шлака (отверстия, содержащие шлак) под оптическим металлографическим микроскопом из таблицы 1
Из сравнения количества, размера и средней площади
Что касается средней площади шлаковых включений в поле, то верхняя зона S31 фильтрующей пластины аналогична средней зоне S32, а площадь зоны S33, расположенной в непосредственной близости от фильтрующей пластины, значительно уменьшена.
Размер шлака, задерживаемого фильтрующей пластиной, может составлять всего 11 микрон.
2.2 Анализ состава шлаковых включений
Чтобы облегчить наблюдение за шлаком, образец S32 был помещен под микроскоп с сверхбольшой глубиной резкости, а для анализа дефектов с помощью энергетического спектра был использован сканирующий электронный микроскоп.