Farklı numuneleri incelemek ve mikroskop kullanarak gözenekli seramik filtredeki kusurları ve cüruf kalıntılarını analiz etmek, sürecin daha sonraki aşamalarda iyileştirilmesine doğrudan katkı sağlayacaktır.
1 Numune işleme
Dökülmüş 432×432×50 mm, 50 ppi'yi alın gözenekli seramik filtre kusuru giderin ve gözenekli seramik filtre resimde gösterildiği gibi parçalara ayırın
Bundan sonra, test bloğu yatay yönde kesilir. Kesme yöntemi Şekil 2’de gösterilmiştir.
Analiz için “3 dikey kesit” etiketli numuneler seçildi ve yatay kesim yapıldıktan sonra yukarıdan aşağıya doğru numaralandırıldılar; bu numunelerin numaraları sırasıyla S31, S32 ve S33 idi.
Kesilmiş filtreler işlenir, parlatılır, ultrasonik olarak temizlenir (mutlak etanol içinde temizlenir) ve ardından bir Leica DM2700 M ışığıyla ışınlanır
İşlemden geçirilmiş numuneler fotoğraflandı ve metalografik mikroskopla incelendi; üst, orta ve alt bölümlerdeki kusur dağılımı analiz edildi. Aynı zamanda KEYENCE VHX-5000 kullanılarak
Kusurlar, süper derinlikli mikroskopla incelenmiştir. Her bir numunenin elektron mikroskobu incelemesi ve enerji analizi, Alman Zeiss EVO18 alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu kullanılarak gerçekleştirilmiştir.
Spektral analiz gözlemi.
2 Sonuçlar ve Analiz
2.1 Mikroyapı analizi
Şekil 3, Şekil 5 ve Şekil 7, sırasıyla S31, S32 ve S33 numunelerinin optik metalografik mikroskop altında 50 kat büyütülmüş halleridir. Şekildeki beyaz kısım
Metal matris, siyah çizgili kısım ise şunun seramik ağından oluşur: gözenekli seramik filtre kusur: Metal alt tabakada küçük yuvarlak lekeler, şeritler veya düzensizlikler görülebilir
cüruf ızgarası (veya cüruf delikleri).
Alman yapımı EVO18 taramalı elektron mikroskobu kullanılarak, Zeiss alan emisyonlu taramalı
Her bir numunenin elektron mikroskobu incelemesi ve enerji spektrum analizi için taramalı elektron mikroskobu
Analize göre, elektron mikroskobu görüntülerinden görüldüğü üzere gözenekli seramik filtre kusur ve
Metal matrisin S31, S32 ve S33 sırasına göre, cüruf gözenekleri
Cüruf miktarı kademeli olarak azalmaktadır; S33'teki cüruf gözenekleri önemli ölçüde azalmıştır ve altın
Mikro yapı daha yoğundur.
Tablo 1’de yer alan optik metalografik mikroskop altında gözlemlenen cüruf kalıntıları (cüruf içeren delikler)
Aşağıdakilerin sayısı, boyutu ve ortalama alanının karşılaştırılmasından anlaşıldığı üzere
Sahada cüruf kalıntılarının ortalama alanı açısından, filtre plakasının üst kısmındaki S31, ortadaki S32 ile benzerlik gösterirken, filtre plakasına yakın olan S33’te bu alan önemli ölçüde azalmıştır.
Filtre plakası tarafından tutulan cüruf, 11 mikron kadar küçük olabilir.
2.2 Cüruf kalıntılarının bileşim analizi
Cürufu daha kolay inceleyebilmek için, S32 numunesi süper derinlikli mikroskop altında incelemeye alındı ve kusurları enerji spektrumu yoluyla analiz etmek üzere taramalı elektron mikroskobu kullanıldı.